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OTDR 如何處理實(shí)際測試中的盲點(diǎn)

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2018-07-18
天津文豪科技發(fā)展有限公司

一系列“盲點(diǎn)”通常被稱為盲區(qū)，導(dǎo)致有源連接器和機(jī)械連接器等特征點(diǎn)的反射導(dǎo)致 OTDR 接收器飽和。

光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)：有源連接器的介入引起的反射峰，從反射峰起點(diǎn)到接收端飽和峰的長度距離，為稱為事件盲區(qū)，光纖中的反射峰是由有源連接器介入引起的，從反射峰的起點(diǎn)開始稱為衰減盲區(qū)。對于 OTDR，盲區(qū)越小越好。盲區(qū)會(huì)隨著脈沖加寬寬度的增加而增加，增加脈沖寬度的同時(shí)增加了測量長度，同時(shí)也增加了測量盲區(qū)，所以在測試光纖時(shí)，光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量OTDR 附件應(yīng)使用窄脈沖，而寬脈沖應(yīng)用于測量光纖的遠(yuǎn)端。

OTDR 如何處理實(shí)際測試中的盲點(diǎn)

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